文献

J-GLOBAL ID：201802282474371444   整理番号：18A0427859

LnAlO_3ドープBa_6 3Ln_8Ti_18O_54(Ln=Nd, Sm, La)セラミックの一定品質因子の観察と予測【Powered by NICT】

The observation and prediction of constant quality factors of LnAlO₃ doped Ba_6-3 Ln₈₊₂ Ti₁₈O₅₄ (Ln = Nd, Sm, La) ceramics

著者 (11件)： Chen Hetuo (State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China) ,  Chen Hetuo (Division of Engineering and Applied Science, California Institute of Technology, Pasadena 91125, United States of America) ,  Zhang Shuren (State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China) ,  Tang Bin (State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China) ,  Yang Han (State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China) ,  Zhou Moke (State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China) ,  Si Feng (State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China) ,  Li Enzhu (State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China) ,  Wang Huolei (Division of Engineering and Applied Science, California Institute of Technology, Pasadena 91125, United States of America) ,  Quan Xiangqian (Institute of Deep-sea Science and Engineering, Chinese Academy of Science, Sanya 572000, People’s Republic of China) ,  Li Hao (College of Electrical and Information Engineering, Hunan University, Changsha 410082, People’s Republic of China)
資料名： Ceramics International  (Ceramics International)
巻： 44  号： 5  ページ： 4611-4614  発行年： 2018年 
JST資料番号： H0705A  ISSN： 0272-8842  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 通常,二相セラミックの品質因子は高品質因子成分の体積モル比が増加すると,増加するであろう。LnAlO_3(7GHzで~9000)の体積モル比が増加するとBa_6 3Ln_8Ti_18O_54-LnAlO_3(Ln=Nd, Sm, La)セラミックの品質因子は一定(4GHzで 2200±200)を維持した。の以前の研究は,誘電定数を適合させることにより微細構造変化の重要性を報告し,ここでが,定義による体積モル比の変化,セラミック製造をガイドするための非常に重要であるとして品質係数を正確に決定できる品質係数を求める式を導出した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 誘電率 ,  *セラミック ,  モル比 ,  *ドーピング ,  微細構造
準シソーラス用語： 品質係数 ,  *品質因子 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： 一定品質因子 ,  誘電定数 ,  Maxwell-Wagner方程式

分類 (2件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G) ,  セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V)

タイトルに関連する用語 (7件)： ドープ ,  Sm ,  La ,  セラミック ,  品質因子 ,  観察 ,  予測