抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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試験において,エンジニアは最も有用な試験(優先順位付け)を実行することを望んでいる。テストが数百または数千回実行されるとき,テストセットを最小化することにより,著しい節約(最小化)をもたらすことができる。本論文では,最小テストセットとテストケース優先順位付け問題の両方を扱うための新しい解析手法を提案した。本論文は,著者らの解析技術のための基礎である突然変異体のstubornの概念を正確に定義した。ここでは,最小化試験セットのサイズと迅速突然変異体がどのように殺されるかに関して,著者らの技術を他のテストケースの最小化と優先順位付け技術と経験的に比較した。著者らは,Siemensリポジトリからの7つのC言語被験者,特に試験セットと以前の研究からの殺害マトリックスを用いた。各セットに対して30の異なる次数を用い,各セットに対して100倍の各技術を実行した。結果は,著者らの解析技術が最小のテストセットを作り出すために以前の技術より有意に優れていることを示して,すべてのケースのために新しい限界を確立することができた。また,著者らの分析技術は,以前の技術よりも速いか速く突然変異体を殺した。これらの結果は,著者らの突然変異体の研究が,サイズが最小で,他の技術よりも効果的に優先順位付けされる試験セットを構築することを示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
