抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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バグ予測は,欠陥がより多い可能性のあるコードアーチファクトの同定において,開発者を支援することを目的としている。研究者は,バグの傾向のある方法を同定するための予測モデルを提案し,このレベルの粒度で操作することが可能であるという有望な証拠を提供した。特に,独立変数として使用される製品とプロセス計量の混合物に基づくモデルは,最良の結果をもたらした。本研究では,最初に,異なるシステム/タイムスパンに関する方法レベルバグ予測に関する以前の研究を複製した。その後,評価戦略を反映し,より現実的なものを提案した。著者らの研究の重要な結果は,同じ戦略で評価したとき,方法レベルのバグ予測モデルの性能が,以前に異なるシステム/タイムスパンに対して以前に報告されたものと類似していることを示している。しかし,より現実的な戦略で評価した場合,全てのモデルはランダム分類器のそれに近い結果を示す性能の劇的な低下を示した。著者らの複製と負の結果は,方法レベルのバグ予測が依然として未解決の挑戦であることを示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】