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J-GLOBAL ID：201802283076451128   整理番号：18A1773649

低損失角曲げ基板集積導波路(SIW)上のI形EBG構造の性能【JST・京大機械翻訳】

Performance of I-Shaped EBG Structures Over Low Loss Angular Bend Substrate Integrated Waveguide (SIW)

著者 (7件)： Moitra S. (Dept. of Electronics & Communication Engineering, Dr. B C Roy Engineering College, Durgapur, 713206, India) ,  Ghosh C. K. (Dept. of Electronics & Communication Engineering, Dr. B C Roy Engineering College, Durgapur, 713206, India) ,  Prasad A. K. (Dept. of Electronics & Communication Engineering, Dr. B C Roy Engineering College, Durgapur, 713206, India) ,  Kumari S. (Dept. of Electronics & Communication Engineering, Dr. B C Roy Engineering College, Durgapur, 713206, India) ,  Bashishtha D. (Dept. of Electronics & Communication Engineering, Dr. B C Roy Engineering College, Durgapur, 713206, India) ,  Srivastava S. (Dept. of Electronics & Communication Engineering, Dr. B C Roy Engineering College, Durgapur, 713206, India) ,  Chatterjee A. (Dept. of Electronics & Communication Engineering, Dr. B C Roy Engineering College, Durgapur, 713206, India)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： IEMENTech  ページ： 1-5  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： サブストレート統合波ガイド(SIW)上のI形周期的電磁バンドギャップ構造の性能研究を行った。本研究は,マイクロ波集積回路(MICs)内のより良い統合能力の観点から,90度曲げSIW送電線セクション上で行った。導波路曲がりに起因する反射損失は,端壁ビアのいくつかの有用なパラメータの最適化によって制御される。挿入損失とアイソレーションを含む通過帯域応答を,パラメトリック研究セクションで生成されたいくつかのEBGパラメータの研究に基づいて調整した。BPFは,阻止帯域アイソレーション>30dBの伝送通過帯域を通して,IL<1dbのマイクロ波Ku帯内で動作する。全ての実験は,厚さ0.8mm,誘電率3.2のNeltec NH9320材料上で行った。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 最適化 ,  マイクロ波 ,  誘電率 ,  送電線 ,  マイクロ波集積回路 ,  基質 ,  ビール ,  挿入損 ,  *導波路
準シソーラス用語： 阻止帯域 ,  通過帯域 ,  Kuバンド ,  *基板集積導波路 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 曲げ ,  基板集積導波路 ,  SIW ,  EBG構造