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J-GLOBAL ID：201802284460647733   整理番号：18A1705557

Williamson-Hallとサイズ-歪プロット法による固相焼結アルミナドープ酸化亜鉛セラミックのX線ピークプロファイル解析

X-ray peak profile analysis of solid-state sintered alumina doped zinc oxide ceramics by Williamson-Hall and size-strain plot methods

著者 (2件)： KUMAR B. Rajesh (GITAM Univ., AP, IND) ,  HYMAVATHI B. (Anil Neerukonda Inst. of Technol. and Sci. (Autonomous), AP, IND)
資料名： Journal of Asian Ceramic Societies (Web)  (Journal of Asian Ceramic Societies (Web))
巻： 5  号： 2  ページ： 94-103 (WEB ONLY)  発行年： 2017年06月 
JST資料番号： U1450A  ISSN： 2187-0764  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ・固相反応法により種々の濃度のAl₂O₃アルミナをドープした固相焼結ZnOを調製しX線回折によって特性評価を実施。
・Rietveld法からその試料が六方晶系ZnO相と立方晶系Al相を有することが判明。
・試料の格子パラメータは(aとc)は格子収縮により低下し,Alが格子中に成功裏にドープされたことを確認。
・小さな結晶粒径と歪に起因する試料のX線ピークの広がりを観測。
・Scherrerの式,Willamson-Hall,およびサイズ-歪プロット(SSP)法から得た平均結晶粒径は粒度分布を平均化する際での違いにより僅かな変動を観測。
・これらの方法は結晶粒径,歪,応力,およびエネルギー密度値を決定するのに有用で,その中でSSP法が結晶を定義するのに非常に適していることが判明。

シソーラス用語： *酸化亜鉛 ,  *アルミナ ,  *焼結 ,  *セラミック ,  *X線分析 ,  解析 ,  ドーピング ,  粒度分布 ,  図化 ,  *X線回折 ,  Rietveld法 ,  結晶粒径 ,  歪 ,  応力
準シソーラス用語： プロット ,  固相焼結

分類 (2件)： 金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y) ,  セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V)

タイトルに関連する用語 (11件)： サイズ ,  歪 ,  プロット ,  固相焼結 ,  アルミナ ,  ドープ ,  酸化亜鉛 ,  セラミック ,  X線 ,  プロファイル ,  解析