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J-GLOBAL ID：201802284473289356   整理番号：18A0209956

外部フィードバックダイオードアレイに基づくsmile効果測定法【JST・京大機械翻訳】

Smile Effect Measurement of Laser Diode Line Arrays Based on External Cavity

著者 (9件)： Li Jing (北京工業大学 激光工程研究院,北京,100124) ,  Cao Yinhua (北京工業大学 激光工程研究院,北京,100124) ,  Liu Youqiang (北京工業大学 激光工程研究院,北京,100124) ,  Xu Shangrui (北京工業大学 激光工程研究院,北京,100124) ,  Qin Wenbin (北京工業大学 激光工程研究院,北京,100124) ,  Qiu Yuntao (北京工業大学 激光工程研究院,北京,100124) ,  Yao Lei (北京工業大学 激光工程研究院,北京,100124) ,  Ceng Xiaodi (北京工業大学 激光工程研究院,北京,100124) ,  Wang Zhiyong (北京工業大学 激光工程研究院,北京,100124)
資料名： Faguang Xuebao  (Faguang Xuebao)
巻： 38  号： 10  ページ： 1302-1306  発行年： 2017年 
JST資料番号： W1380A  ISSN： 1000-7032  CODEN： FAXUEW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 外部共振器共振器を用いて,元のチップ閾値以下の電流励起下で,LDAの各発光点を単独で測定し,全半導体レーザアレイ(LDA)のsmile効果を分析した。実験では、反射率が半導体の前空洞面より大きい外部鏡を利用して外部共振器半導体レーザーを形成した。表面にp-n接合に平行な円筒面鏡を挿入することにより,光軸上の発光点と外部鏡のみが外部共振器を形成し,その発光点のレーザ閾値を低下させることにより,正常な閾値以下の電流励起下でレーザを出力し,p-n接合に平行な方向に移動する。。............................ . . . . . 1に対しては,その閾値を以下のように励起する.半導体レーザにおける発光点を選択的に測定することによって,LDA smile効果の測定値を得ることができた。測定における低電流励起による熱量はチップ寿命に影響を与えず、LDAの発光点に対する単一測定も他の発光点がCCDに与える影響を避けた。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 共振器 ,  半導体レーザ ,  熱量 ,  半導体 ,  PN接合 ,  電流 ,  励起 ,  反射率 ,  *発光 ,  レーザ
準シソーラス用語： 光軸 ,  半導体レーザアレイ ,  外部共振器 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： diode laser ,  external cavity feedback ,  smile effect

分類 (1件)： 半導体レーザ  (BD04070L)

タイトルに関連する用語 (2件)： SMILE ,  測定法