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J-GLOBAL ID：201802284512743039   整理番号：18A1809830

生体試料の研究に用いる走査近接場光学顕微鏡法における新しい技術【JST・京大機械翻訳】

A New Technique in Scanning Near Field Optical Microscopy Used for Investigations on the Biological Samples

著者 (6件)： Tranca D. E. (Center for Microscopy-Microanalysis and Information Processing, University Politehnica of Bucharest, Bucharest, 060042, Romania) ,  Hristu R. (Center for Microscopy-Microanalysis and Information Processing, University Politehnica of Bucharest, Bucharest, 060042, Romania) ,  Stanciu S. G. (Center for Microscopy-Microanalysis and Information Processing, University Politehnica of Bucharest, Bucharest, 060042, Romania) ,  Holban A. M. (Microbiology Immunology Department, University of Bucharest, Bucharest, Romania) ,  Toma A. (Center for Microscopy-Microanalysis and Information Processing, University Politehnica of Bucharest, Bucharest, 060042, Romania) ,  Stoichita C. (Center for Microscopy-Microanalysis and Information Processing, University Politehnica of Bucharest, Bucharest, 060042, Romania)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： ICTON  ページ： 1-3  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 生体試料の研究に使用されるフェムト秒Ti:サファイアレーザを用いた無開口近接場顕微鏡に基づく新しい方法を示した。この技術を多モード顕微鏡システムに統合した。表面試料上の倒立顕微鏡の目的を用いてTi:サファイアレーザのビームを集束した。試料表面と電場により作られた電気双極子との平行計画におけるレーザビームの電場は,AFMチップにより変調される放射を放出する。この放射は,検出器に送られた試料の上に置かれたs-SNOMモジュールの目的によって収集される。画像はs-SNOMと比較して良好なコントラストを示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *近接場 ,  Ti-サファイアレーザ ,  検出器 ,  フェムト秒 ,  画像 ,  多モード ,  *顕微鏡 ,  電場 ,  レーザビーム ,  電気双極子 ,  *生体試料 ,  開口 ,  コントラスト
準シソーラス用語： AFMチップ ,  倒立顕微鏡 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 生体試料 ,  研究 ,  走査近接場光学顕微鏡法