文献

J-GLOBAL ID：201802284544008327   整理番号：18A0442979

IGBTの信頼性試験結果に及ぼすサイクルパラメータの影響【Powered by NICT】

The influence of the cycling parameters on the reliability test results of IGBTs

著者 (2件)： Sarkany Zoltan (Mentor Graphics) ,  Rencz Marta (Mentor Graphics)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： EPTC  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： IGBTパワーモジュールの寿命試験のために使用される最も一般的な信頼性試験方法の一つは,電力(活性)サイクルである。,相対的に簡単な検査法であるにもかかわらず,考慮する必要があることを多くの側面である。本稿では電気装置の重要性,デバイスは作動するか,制御戦略,試験パラメータがどのように調節されているかを研究し,評価した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *信頼性試験 ,  寿命試験 ,  *IGBT ,  電力
準シソーラス用語： パワーモジュール , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： トランジスタ  (NC03070N) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： IGBT ,  信頼性試験 ,  サイクル ,  パラメータ