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J-GLOBAL ID：201802285202314678   整理番号：18A1680600

近接場赤外線温度測定法の開発【JST・京大機械翻訳】

Development of Near-Field Infrared Thermometry

著者 (2件)： Miura Hiroaki (School of Integrated Design Engineering, Keio University, Japan) ,  Taguchi Yoshihiro (Department of System Design Engineering, Keio University, 3-14-1 Hiyoshi, Yokohama, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： OMN  ページ： 1-2  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノスケール温度測定は,マイクロおよびナノデバイスの熱設計にとって重要である。測定では非接触非破壊法が有効である。この方法は,テーパ付き高効率近接場ファイバプローブによるナノスケール赤外温度測定を提供する。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： プローブ ,  *赤外線 ,  *温度測定 ,  熱設計 ,  *近接場
準シソーラス用語： 高効率 ,  テーパ ,  非接触 ,  ナノデバイス ,  ナノスケール , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 近接場 ,  赤外線 ,  温度測定 ,  開発