文献

J-GLOBAL ID：201802285277212987   整理番号：18A1255908

回路の脆弱性を明らかにするためのセキュリティクリティカルパスの同定と測定【JST・京大機械翻訳】

Identifying and Measuring Security Critical Path for Uncovering Circuit Vulnerabilities

著者 (3件)： Hu Wei ,  Ardeshiricham Armaiti ,  Kastner Ryan
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： MTV  ページ： 62-67  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ハードウェアは,暗号鍵,個人識別可能な情報,およびファームウェアのような重要な資源への低レベルアクセスを制御するので,ますます魅力的な攻撃表面である。残念ながら,ハードウェア設計のセキュリティ脆弱性を評価することは困難であり,それはあまりにも少ないハードウェアセキュリティ設計ツールと計量の結果である。本研究では,ハードウェアセキュリティメトリックスを形式化することにより,ハードウェア設計の重要なセキュリティ品質を記述した。セキュリティクリティカルパスの概念を導入し,それが機密性,完全性,およびタイミングチャネルに関連する特性を評価するためにどのように使用できるかを示した。セキュリティクリティカルパスを評価するための技術を記述し,多くの異なるハードウェア設計におけるセキュリティ欠陥の発見におけるそれらの有効性を評価した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 完全性 ,  ファームウェア ,  品質 ,  暗号鍵 ,  ハードウェア ,  ハードウェア設計 ,  *セキュリティ
準シソーラス用語： 機密性 ,  設計ツール ,  個人認証 ,  *脆弱性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： データ保護  (JD01020V)

タイトルに関連する用語 (4件)： 脆弱性 ,  セキュリティ ,  クリティカルパス ,  同定