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J-GLOBAL ID：201802285547025276   整理番号：18A1259204

機械的測定,FTIR及びXPS分析によるATH充填剤の異なる含有量を持つHTVシリコーンゴムの特性化【JST・京大機械翻訳】

Characterization of HTV silicone rubber with different content of ATH filler by mechanical measurements, FTIR and XPS analyzes

著者 (4件)： Fan Shuochao (State Grid Jibei Electric Power Co. Ltd. Research Institute, North China Electric Power Research Institute Co. Ltd, Beijing, 100045, China) ,  Zhang Xu (State Grid Jibei Electric Power Co. Ltd. Research Institute, North China Electric Power Research Institute Co. Ltd, Beijing, 100045, China) ,  Lu Yi (State Grid Jibei Electric Power Co. Ltd. Research Institute, North China Electric Power Research Institute Co. Ltd, Beijing, 100045, China) ,  Gao Yanfeng (State Grid Jibei Electric Power Co. Ltd. Research Institute, North China Electric Power Research Institute Co. Ltd, Beijing, 100045, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： ICPADM  ページ： 888-891  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,異なるATH充填剤含有量を有する5つの充填HTVシリコーンゴムを,機械的測定,FTIR分析およびXPS分析によって特性化した。ATH充填剤は,表面薬物なしのATH充填剤に対して,シリコーンゴムマトリックスと悪い組合せ効果を有し,ATH充填剤とシリコーンゴム間の相互作用は,物理的相互作用であり,低い相互作用は,マトリックス中に添加されたATH充填剤によるシリコーンゴムの低い機械的性能をもたらした。ATH充填剤の添加は,ヒドロキシル(-OH)の増加とSi(CH_3)_2の減少をもたらす。シリコーンゴムマトリックスへのATH充填剤の添加によるSi(CH_3)_2の減少は,ATH充填剤がシリコーンゴムの架橋を制限することができる間隔効果を有することを示した。LMWの移動のために,ATH充填剤の表面はLWMによってカバーされるが,XPSの分析深さはnmであるので,Al元素はシリコーンゴムの表面上で検出されない。従って,XPS分析はシリコーンゴム中のATH充填剤の検出に適していない。本研究に基づいて,異なるATH含有量を有するシリコーンゴムの機械的性質の詳細な理解,ならびに関連するFTIRおよびXPS結果を得た。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *シリコーンゴム ,  *X線光電子分光法 ,  機械的測定 ,  X線光電子スペクトル ,  *キャラクタリゼーション ,  機械的性質 ,  相互作用 ,  アルミニウム ,  *FTIR分光法
準シソーラス用語： 機械的性能 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 充填剤,補強材  (YH05030J) ,  ゴム  (YH07020M)

タイトルに関連する用語 (8件)： 機械的測定 ,  FTIR ,  XPS分析 ,  充填剤 ,  含有量 ,  HTV ,  シリコーンゴム ,  特性化