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J-GLOBAL ID：201802286375606160   整理番号：18A0813581

ヘテロダイン検出における遺伝的アルゴリズムの使用による空間位相収差の補償【JST・京大機械翻訳】

Compensation for spatial phase aberration by use of genetic algorithm in heterodyne detection

著者 (6件)： Dong Hongzhou (State Key Laboratory of Electronic Thin Films and lntegrated Devices, School of Optoelectronic Information, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China) ,  Li Guoqiang (Department of Ophthalmology and Visual Science, The Ohio State University, Columbus, OH 43212, USA) ,  Li Guoqiang (Department of Electrical and Computer Engineering, The Ohio State University, Columbus, OH 43212, USA) ,  Ao Mingwu (State Key Laboratory of Electronic Thin Films and lntegrated Devices, School of Optoelectronic Information, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China) ,  Yang Chunping (State Key Laboratory of Electronic Thin Films and lntegrated Devices, School of Optoelectronic Information, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China) ,  Liu Yong (State Key Laboratory of Electronic Thin Films and lntegrated Devices, School of Optoelectronic Information, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China)
資料名： Optics & Laser Technology  (Optics & Laser Technology)
巻： 105  ページ： 139-145  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0245B  ISSN： 0030-3992  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： アレイ検出器と配列シフトに基づく空間位相収差補正の方法は大きな利点を持つ。しかし,この方法では,シフトステップの計算は既知の光場分布に依存するので,正確な分布が得られない場合にはこの方法は制限される。この問題を克服するために,マイクロコントローラユニット(MCU)で自動的に実行できる適切なシフトステップを探索するために遺伝的アルゴリズム(GA)を用いることを提案した。場分布を得る必要がないので,光学経路における2つのオン-オフ制御装置を省略することによって,システムを簡素化することができた。一方,弱い光信号の検出は新しい方法で実行可能になる。数値計算により,遺伝的アルゴリズムがシフトステップを効果的に決定でき,アレイ検出器の信号対雑音比(SNR)を単一検出器と比較して100倍以上増加できることを確認した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 数値計算 ,  簡素化 ,  収差補正 ,  *収差 ,  SN比 ,  制御装置 ,  *遺伝的アルゴリズム ,  検出器 ,  *位相 ,  光信号
準シソーラス用語： 光学場 ,  *ヘテロダイン検出 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： ヘテロダイン検出 ,  遺伝的アルゴリズム ,  アレイ検出器 ,  シーケンスシフト

分類 (3件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  ホログラフィーの応用  (BD03074U) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (5件)： ヘテロダイン検出 ,  遺伝的アルゴリズム ,  位相 ,  収差 ,  補償