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J-GLOBAL ID:201802286604614592   整理番号:18A0149913

多結晶材料の索引回折パターンのための改善された方位サンプリング【Powered by NICT】

Improved orientation sampling for indexing diffraction patterns of polycrystalline materials
著者 (2件):
資料名:
巻: 50  号:ページ: 1571-1582  発行年: 2017年 
JST資料番号: D0631A  ISSN: 0021-8898  CODEN: JACGAR  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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配向マッピングは多結晶試料の微細構造を明らかにするために広く使用されている技術である。試料中の各点で結晶方位は回折パターンの分析,パターン索引として知られる過程によって決定される。パターン索引法における最近の開発は,力ずくの方法の使用であり,最もありそうな配向を決定するために,回折パターンは多数の結晶方位のシミュレートし,実験的に観察された回折パターンと比較した。この方法は雑音の存在下での配向をロバストに同定できるが,非常に高い計算要求を持っている。本論文では,計算負荷は配向のほぼ最適なサンプリングのための方法を開発することによって減少した。の配向四元数表現を用いることにより,最適サンプリング問題である4次元球面上の最適分布点のものと同等であることを示した。そうすることで,所望のインデキシング精度を達成するのに必要な配向試料の数は有意に減少した。範囲サイズのにおける配向セットは全Laue群に対するこの方法で生成し,容易な使用のためのオンライン使用できる様にした。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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X線回折法 
タイトルに関連する用語 (5件):
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