Wang Yu について
The National Key Laboratory of Microwave Imaging Technology, Institute of Electronics, Chinese Academy of Sciences, 100190, China について
Hong Jun について
The National Key Laboratory of Microwave Imaging Technology, Institute of Electronics, Chinese Academy of Sciences, 100190, China について
IEEE Conference Proceedings について
画素 について
レーダ断面積 について
分解能 について
リモートセンシング について
高分解能 について
サイズ効果 について
合成開口レーダ について
放射測定 について
スケール変換 について
散乱特性 について
後方散乱係数 について
SAR画像 について
放射計測校正 について
レーダ について
高分解能 について
SAR について
放射 について
計測 について
キャリブレーション について
スケール効果 について