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J-GLOBAL ID:201802286662184797   整理番号:18A1840014

TFTLCD機のMura改善に適したTP配向補正研究【JST・京大機械翻訳】

著者 (5件):
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号: 26  ページ: 12-15  発行年: 2018年 
JST資料番号: C4005A  ISSN: 2095-2945  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ(TFT-LCD)は薄膜トランジスタ(ThinFilmTransistor,TFT)とカラーフィルタ膜(ColorFilter,CF)からボックスプロセス(Cell)を経て作成した。2種類のパネルのボックス過程中の相対偏移精度(AlighmentInspection,AI)は製品の表示品質を保障する重要な指標であり、AIは2種類のパネルの露光精度(TotalPitch,TP)によって決まる。本文は主にCFTPと開機Mura不良のメカニズム分析と改善研究を行った。CFTPに対するCFプロセスの効果の深い解析と実験検証により、定方向補正のCFTPDesignの最適化方法が得られ、有効に開機Mura不良の定点改善を実現でき、不良率は9.17%から0.10%以下に下がった。伝統的補正法と比較して,この方法は,指向性,迅速性,精度などの利点を持ち,他のCFTPの位置精度に関する不良な改善に適用可能である。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】
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