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J-GLOBAL ID：201802287080583500   整理番号：18A1679634

NIR光子放出顕微鏡を用いた機能的論理故障欠陥の静的故障位置決めを強化するための欠陥予測法【JST・京大機械翻訳】

Defect Prediction Approach to enhance Static Fault Localization of Functional Logic Failure Defects using NIR Photon Emission Microscopy

著者 (9件)： Nagalingam D. (PTF Department, GLOBALFOUNDRIES Singapore, Product Failure Analysis group, 60 Woodlands Industrial Park D, Street 2, 738406, Singapore) ,  Quah A.C.T. (PTF Department, GLOBALFOUNDRIES Singapore, Product Failure Analysis group, 60 Woodlands Industrial Park D, Street 2, 738406, Singapore) ,  Moon S. (PTF Department, GLOBALFOUNDRIES Singapore, Product Failure Analysis group, 60 Woodlands Industrial Park D, Street 2, 738406, Singapore) ,  Ang G.B. (PTF Department, GLOBALFOUNDRIES Singapore, Product Failure Analysis group, 60 Woodlands Industrial Park D, Street 2, 738406, Singapore) ,  Ting S.L. (PTF Department, GLOBALFOUNDRIES Singapore, Product Failure Analysis group, 60 Woodlands Industrial Park D, Street 2, 738406, Singapore) ,  Ma H.H. (PTF Department, GLOBALFOUNDRIES Singapore, Product Failure Analysis group, 60 Woodlands Industrial Park D, Street 2, 738406, Singapore) ,  Neo S.P. (PTF Department, GLOBALFOUNDRIES Singapore, Product Failure Analysis group, 60 Woodlands Industrial Park D, Street 2, 738406, Singapore) ,  Mai Z.H. (PTF Department, GLOBALFOUNDRIES Singapore, Product Failure Analysis group, 60 Woodlands Industrial Park D, Street 2, 738406, Singapore) ,  Lam J.C. (PTF Department, GLOBALFOUNDRIES Singapore, Product Failure Analysis group, 60 Woodlands Industrial Park D, Street 2, 738406, Singapore)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： IPFA  ページ： 1-6  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 欠陥誘起放出特性に関する研究は,開放および短欠陥による機能的論理故障に対する静的故障局在化の有効性を著しく強化した。本論文では,開いた欠陥と短い欠陥の間の欠陥誘起放出特性における明確な違いを用いて,レイアウトトレースと解析と共に,欠陥予測アプローチを導出した。それは欠陥タイプの仮説を支援し,長い故障ネットの中の欠陥位置を狭くし,いくつかのケースにおいて正確な欠陥位置を示すことさえできる。先端技術ノード装置に関する成功した事例研究を用いて,欠陥の分離におけるオープンおよびショート欠陥の4つの異なる発光特性および上述のアプローチの効果的応用を記述した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *故障 ,  CASE ,  *位置決め ,  事例研究 ,  顕微鏡
準シソーラス用語： 発光特性 ,  局在化 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (7件)： 光子放出 ,  顕微鏡 ,  論理 ,  故障 ,  欠陥 ,  強化 ,  欠陥予測