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J-GLOBAL ID：201802287378255533   整理番号：18A2234137

DEおよび線形補間法を用いたI-V曲線あてはめによるPVモジュール屋外劣化率の評価【JST・京大機械翻訳】

Evaluation of PV Module Outdoor Degradation rate by means of I-V Curve Fitting with DE and Linear Interpolation Method

著者 (2件)： Izumi Yoshiro (Tokyo University of Science, Katsushika, Tokyo, 125-8585, Japan) ,  Ueda Yuzuru (Tokyo University of Science, Katsushika, Tokyo, 125-8585, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： WCPEC  ページ： 0409-0414  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 太陽光発電(PV)モジュールの劣化率を,モジュール温度,太陽放射照度,および電流-電圧特性などの屋外データを用いた線形補間法によって計算した。この方法は,PVモジュールの出力電力の劣化率だけでなく,短絡電流,開回路電圧,および曲線因子などの他の特性値を定量化することができた。結果として,結晶シリコンPVモジュールは電流低減により劣化することを明らかにした。さらに,各特性値の計算劣化率の相対誤差は,屋内測定の結果と比較することにより,平均で0.8%以内であった。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *曲線あてはめ ,  短絡電流 ,  電流電圧特性 ,  電流 ,  太陽光発電 ,  固有値
準シソーラス用語： 屋内 ,  相対誤差 ,  曲線因子 ,  開回路電圧 ,  出力電力 ,  太陽放射照度 ,  *劣化率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (7件)： 線形補間 ,  曲線あてはめ ,  PV ,  モジュール ,  屋外 ,  劣化率 ,  評価