文献

J-GLOBAL ID：201802287814539025   整理番号：18A0312250

ロジウムナノ粒子の作製とin/ex situ XPS特性評価

Fabrication and in / ex situ XPS Characterization of Rh Nanoparticles

著者 (6件)： Koda Yuki (Graduate School of Science, Hiroshima University) ,  Koda Yuki (Technical Research Center, Mazda Motor Corporation) ,  Sumida Hirosuke (Technical Research Center, Mazda Motor Corporation) ,  Ogawa Satoshi (Department of Materials, Physics and Energy Engineering, Graduate School of Engineering) ,  Tsukada Chie (Materials Sciences Research Center, Sector of Nuclear Science Research, Japan Atomic Energy Agency) ,  Namatame Hirofumi (Synchrotron Radiation Center, Hiroshima University)
資料名： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web))
巻： 15  ページ： 50-54(J-STAGE)  発行年： 2017年 
JST資料番号： U0016A  ISSN： 1348-0391  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 愛知シンクロトロン放射センター(愛知SR)で,BL6N1の予備排気チェンバと連結したロジウムチェンバ内にHeガスを注入した蒸発法を用いロジウムナノ粒子を作製した。SR-XPSとTEMを用い,大気曝露無し(in situ XPS)および大気曝露後(ex situ XPS)のロジウムナノ粒子の電子物性と幾何学的性質を検証した。直径が1.8±0.5nmのロジウムナノ粒子が基板に沈着した。光子エネルギーが2.0keVと3.5keVのin situ XPS分析の結果,大気曝露無しで沈着したロジウムナノ粒子の表面は金属状態を示した。一方,短時間でも大気に曝露した後は,最外部表面は酸化ロジウムに変化した。さらに長期の大気曝露で,酸化ロジウムは深さ方向に増加し,深部は高い酸化状態を示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *ロジウム ,  *ナノ粒子 ,  *X線光電子分光法 ,  ヘリウム ,  蒸発 ,  透過型電子顕微鏡 ,  エネルギー ,  光子 ,  酸化ロジウム ,  シンクロトロン放射 ,  ロジウム触媒 ,  触媒調製 ,  構造特性 ,  光子エネルギー ,  電子物性
準シソーラス用語： TEM【顕微鏡】 ,  XPS

著者キーワード (5件)： Rhodium ,  nanoparticle ,  TEM ,  SR-XPS ,  oxidation

分類 (1件)： 貴金属触媒  (CB06122I)

引用文献 (25件)：

• [1] H. Muraki and G. Zhang, Catal. Today 63, 337 (2000). ( http://dx.doi.org/10.1016/S0920-5861(00)00477-6 )
• [2] H. S. Gandhi, G. W. Graham, and R. W. McCabe, J. Catal. 216, 433 (2003). ( http://dx.doi.org/10.1016/S0021-9517(02)00067-2 )
• [3] Q. Zheng, R. Farrauto, M. Deeba, and I. Valsamakis, Catalysts 5, 1770 (2015). ( http://dx.doi.org/10.3390/catal5041770 )
• [4] M. Valden, X. Lai, and D. W. Goodman, Science 281, 1647 (1998). ( http://dx.doi.org/10.1126/science.281.5383.1647 )
• [5] M. Haruta, S. Tsubota, T. Kobayashi, H. Kageyama, M. J. Genet, and B. Delmon, J. Catal. 144, 175 (1993). ( http://dx.doi.org/10.1006/jcat.1993.1322 )

タイトルに関連する用語 (5件)： ロジウム ,  ナノ粒子 ,  作製 ,  XPS ,  特性評価