文献

J-GLOBAL ID：201802288039242400   整理番号：18A1035048

過剰窒化Sm-Fe-Mn-N粉末のマルチスケール電子顕微鏡観察【JST・京大機械翻訳】

Multi-scale electron microscopy of overnitrided Sm-Fe-Mn-N powder

著者 (2件)： Hosokawa Akihide (National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Magnetic Powder Metallurgy Research Center (MagMET), 2266-98 Anagahora, Shimoshidami, Moriyama-ku, Nagoya 463-8560, Aichi, Japan) ,  Takagi Kenta (National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Magnetic Powder Metallurgy Research Center (MagMET), 2266-98 Anagahora, Shimoshidami, Moriyama-ku, Nagoya 463-8560, Aichi, Japan)
資料名： AIP Advances (Web)  (AIP Advances (Web))
巻： 8  号： 5  ページ： 055031-055031-5  発行年： 2018年 
JST資料番号： U7121A  ISSN： 2158-3226  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 透過型電子顕微鏡(TEM)と集束イオンビーム走査型電子顕微鏡(FIB-SEM)を組み合わせた多重スケール電子顕微鏡技術を用いて,磁気特性に及ぼす過窒化によるSm_2(Fe_0.95mN_0.05)_17N_xの微細構造変化の影響を研究した。SEM機械における最近の高コントラスト後方散乱電子イメージング技術は,非常に大きな視野からセル状微細構造の形成事象を明らかにすることを可能にした。さらに,詳細なTEM観察により,セルの結晶方位と局所化学ゆらぎを明らかにした。これらの技術の組合せにより,この材料の微細構造の階層構造を理解することができ,個々の粒子の元の配向が過剰窒化により形成されたナノ結晶セルに継承されることを検証した。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 後方散乱 ,  走査電子顕微鏡 ,  ゆらぎ ,  微細構造 ,  ナノ結晶 ,  透過型電子顕微鏡 ,  集束イオンビーム ,  *窒化 ,  *電子顕微鏡 ,  *電子顕微鏡観察 ,  *粉体 ,  画像技術 ,  結晶方位
準シソーラス用語： 局在化 ,  *マルチスケール , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 半導体の結晶成長  (BK13040X) ,  セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V) ,  塩  (CD01050V) ,  吸着剤  (YB03000W) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (7件)： 窒化 ,  Sm ,  Fe ,  Mn ,  粉末 ,  マルチスケール ,  電子顕微鏡観察