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J-GLOBAL ID：201802288311758972   整理番号：18A0283735

非晶質シリコンモデルのゆらぎ顕微鏡法解析【Powered by NICT】

Fluctuation microscopy analysis of amorphous silicon models

著者 (3件)： Gibson J.M. (Northeastern University, Department of Physics, Boston MA 02115, USA) ,  Gibson J.M. (FAMU/FSU Joint College of Engineering, 225 Pottsdamer Street, Tallahassee, FL 32310, United States) ,  Treacy M.M.J. (Arizona State University, Department of Physics, Tempe AZ 85287, USA)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 176  ページ： 74-79  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 計算機モデルを用いて,非晶質シリコンの構造を同定するためのゆらぎ電子顕微鏡(FEM)の使用を検討した。構造モチーフを得るためにcorrelograph解析により,相関長を測定するための可変分解能FEMの組合せは構造相関をはっきりさせることができることを示した。準結晶複合材料の体積分率を独立に測定の有望な手段としてcorrelograph分散の方法を導入した。公表されたデータとの比較から,実質的にパラ結晶がパラ結晶と連続ランダムネットワークの唯一の複合材料は,既存の実験データを説明し,非晶質半導体上のより正確な測定への道を指し示すのかもしれないことを確認した。結果は,他のクラスの無秩序物質の一般的な興味を持たれている。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 非晶質半導体 ,  電子顕微鏡 ,  体積率 ,  計算機械 ,  相関長 ,  パラ結晶 ,  複合材料 ,  分解能 ,  *ゆらぎ ,  準結晶 ,  *非晶質 ,  *顕微鏡観察 ,  *モデル ,  *アモルファスシリコン
準シソーラス用語： ランダムネットワーク , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 非晶質 ,  ゆらぎ ,  Medium_range_order ,  シリコン ,  ナノ回折 ,  STEM

分類 (2件)： 非晶質半導体の構造  (BK04030O) ,  非晶質の構造一般  (BK04010S)

タイトルに関連する用語 (5件)： 非晶質シリコン ,  モデル ,  ゆらぎ ,  顕微鏡法 ,  解析