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J-GLOBAL ID：201802288538034566   整理番号：18A2140882

EDXRFを用いたスラグの迅速元素分析

著者 (8件)： 大柿真毅 (日立ハイテクサイエンス) ,  山田充子 (日立ハイテクサイエンス) ,  辻川葉奈 (日立ハイテクサイエンス) ,  深井隆行 (日立ハイテクサイエンス) ,  添田直希 (日立ハイテクサイエンス) ,  中村一廣 (日立ハイテクサイエンス) ,  坂元秀之 (日立ハイテクサイエンス) ,  篠原圭一郎 (日立ハイテクサイエンス)
資料名： X線分析討論会講演要旨集  (X線分析討論会講演予稿集)
巻： 54th  ページ： 157-158  発行年： 2018年10月25日 
JST資料番号： S0881A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *エネルギー分散蛍光X線分析 ,  *スラグ ,  *迅速分析 ,  *元素分析 ,  ホウ酸塩 ,  リチウム化合物 ,  ICP-AES分析 ,  微量成分 ,  痕跡分析 ,  同時計測 ,  水砕スラグ
準シソーラス用語： ホウ酸リチウム ,  転炉スラグ

分類 (2件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  製鋼  (WD01060A)

タイトルに関連する用語 (2件)： スラグ ,  元素分析