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J-GLOBAL ID:201802288948654923   整理番号:18A0968758

MeV/c2暗黒物質の直接検出のためのn型GaAsの低温シンチレーション特性【JST・京大機械翻訳】

Cryogenic scintillation properties of n-type GaAs for the direct detection of MeV/c2 dark matter
著者 (4件):
資料名:
巻: 123  号: 11  ページ: 114501-114501-7  発行年: 2018年 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文は,十分に探査されていないMeV/c~2質量範囲における相互作用する暗黒物質(DM)粒子からの電子反跳の検出のための低温シンチレーション放射検出器としてのn型GaAsの最初の報告である。2つの商用供給者からの7つのGaAsサンプルと異なるシリコンとホウ素濃度を,それらの低温光学とシンチレーション特性のために研究した。全ての試料は低温でもn型であり,1.33eV(930nm)にピークをもつシリコンドナーとホウ素アクセプタ間の発光を示した。最低励起バンドは1.44eV(860nm)でピークを示し,発光と励起バンド間の重なりは小さかった。X線励起ルミネセンスは7~43光子/keVの範囲であった。熱刺激ルミネセンス測定は,n型GaAsが残光を引き起こす準安定放射状態を蓄積しないことを示した。低温光検出器による更なる開発と使用は,大きなターゲットサイズ,超低バックグラウンド,および数eVの電子反跳に対する感度を約束する。これは,数MeV/c~2の光としてのDM粒子により生成される。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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半導体のルミネセンス  ,  半導体薄膜 
タイトルに関連する用語 (5件):
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