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J-GLOBAL ID:201802289234100335   整理番号:18A0281742

成形空間線量分布による高LET RBEを理解するための低LET陽子マイクロビーム【Powered by NICT】

Low LET proton microbeam to understand high-LET RBE by shaping spatial dose distribution
著者 (12件):
資料名:
巻: 404  ページ: 155-161  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0899A  ISSN: 0168-583X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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重イオンのような,高LET放射線は低LET放射線に比べて高い生物効果比(RBE)を持ち,X orγ-線のようなことが知られている。理論とモデルはそれらの極端に不均一線量付与,わずか数ミクロンサイズのスポットに集中しているこれらの高い有効性を考えた。イオンマイクロプローブヘビでは,低LET20MeV陽子(2.6keV/μmの水中のLET)は,ランダムに分布した,またはサブミクロンスポットに焦点を当て,重イオン線量付与を近似する細胞に適用することができる。このように,低と高LETエネルギー付与の間の遷移を実験的にアクセス可能であり,異なる空間線量分布の影響を解析することができる。,非染色細胞の細胞生存率を測定するための技術的装置は,低LET陽子のサブミクロンスポット10~4細胞を培養と照射について報告した。添加では,蛍光核飛跡検出器による20MeV陽子マイクロビームのビームスポットを特性化するために特別な注意をした。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (3件):
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電子ビーム,イオンビーム  ,  放射線高分子化学  ,  細胞レベルに対する影響 

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