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J-GLOBAL ID：201802289537931703   整理番号：18A0651347

CuFeO2セラミックの構造と誘電特性に及ぼす成形圧力の影響を研究した。【JST・京大機械翻訳】

Effect of forming pressure onstructureand dielectric properties of CuFeO2 ceramics

著者 (6件)： Xie Xinyu (鄭州軽工業学院 物理与電子工程学院,河南 鄭州,450002) ,  Dai Haiyang (鄭州軽工業学院 物理与電子工程学院,河南 鄭州,450002) ,  Chen Zhenping (鄭州軽工業学院 物理与電子工程学院,河南 鄭州,450002) ,  Ye Fengjiao (鄭州軽工業学院 物理与電子工程学院,河南 鄭州,450002) ,  Gu Liuting (鄭州軽工業学院 物理与電子工程学院,河南 鄭州,450002) ,  Liu Shuren (鄭州軽工業学院 物理与電子工程学院,河南 鄭州,450002)
資料名： Dianzi Yuanjian yu Cailiao  (Dianzi Yuanjian yu Cailiao)
巻： 36  号： 12  ページ： 16-20  発行年： 2017年 
JST資料番号： C2506A  ISSN： 1001-2028  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 種々の成形圧力(10~800MPa)において,CuFeO2セラミック試料を,従来の固相反応法により調製した;。 CuFeO_2セラミック試料を,種々の成形圧力(10~800MPa)で調製した。X線回折(XRD)、走査電子顕微鏡(SEM)及びインピーダンス分析計などの技術手段を用いて、セラミックサンプルの結晶構造、ミクロ形態及び誘電特性をテストし、特性化した。実験結果により、実験成型圧力範囲内でシステムは構造相転移が発生しないが、成形圧力はそのミクロ形態に対して明らかな影響があることが分かった。成形圧力が100MPaのとき,サンプルの結晶粒は十分に成長し,結晶粒度は最大で,結晶粒界は明瞭であった。電気的性質の試験結果は,成形圧力の適切な増加により,システムの中間周波数安定性が改善されることを示した。成形圧力が100MPaの時,サンプルは高い誘電率と低い誘電損失を示し,良好な誘電特性を示した。CuFeO2セラミックの微細構造と誘電特性の間の関係について予備的に説明した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 結晶粒 ,  インピーダンス ,  誘電率 ,  *セラミック ,  結晶構造 ,  誘電損失 ,  固相反応 ,  構造相転移 ,  結晶粒度 ,  結晶粒界 ,  *誘電性 ,  周波数安定度 ,  微細構造 ,  X線回折 ,  走査電子顕微鏡

著者キーワード (6件)： CuFeO2ceramics ,  forming pressures ,  crystal structure ,  micromorphology ,  dielectric constant ,  dielectric loss

分類 (5件)： その他の無機化合物の電気伝導  (BM03044O) ,  誘電体一般  (BM05010F) ,  塩基,金属酸化物  (CD01030Z) ,  強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B) ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y)

タイトルに関連する用語 (4件)： セラミック ,  誘電特性 ,  成形圧力 ,  研究