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J-GLOBAL ID:201802290427352179   整理番号:18A0152150

MMS上の二重電子スペクトロメータで測定した宇宙機と装置光電子【Powered by NICT】

Spacecraft and Instrument Photoelectrons Measured by the Dual Electron Spectrometers on MMS
著者 (18件):
資料名:
巻: 122  号: 11  ページ: 11,548-11,558  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2389A  ISSN: 2169-9380  CODEN: JGREA2  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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二次電子は,太陽に照らされた宇宙船と装置表面からの光電子放出を介して連続的に生成した。これらの粒子は,続いて電子センサの低エネルギーチャンネルを汚染する可能性がある。宇宙船光電子が正の衛星電位のそれ以下のエネルギーで測定し,エネルギー分解能を犠牲にして除去することができた。しかし,電子機器内部で発生した光電子のフラックスは宇宙探査機の電位に依存せず,電子データを補正するために完全に特性化されなければならない。ここではNASAの磁気圏マルチスケール(MMS)ミッション上の二重電子スペクトロメータ(DES)で測定した宇宙機と装備光電子集団の観測を提出した。MMS試運転時に採取した地球の夜側プラズマシートからの観測を活用と装置光電子の経験的モデルを開発した。このモデルはプラズマモーメントを補正するためにDES速度分布関数を用いてであり,科学者コミュニティにより使用のためのMMS科学データセンターに公的に利用できる。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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宇宙飛行体 
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