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J-GLOBAL ID：201802290546385285   整理番号：18A0446883

安全なチップオドメータを用いたIC偽造との戦い【Powered by NICT】

Combatting IC counterfeiting using secure chip odometers

著者 (3件)： Akkaya N. E. C. (Carnegie Mellon University, Electrical and Computer Engineering, USA) ,  Erbagci B. (Carnegie Mellon University, Electrical and Computer Engineering, USA) ,  Mai K. (Carnegie Mellon University, Electrical and Computer Engineering, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IEDM  ページ： 39.5.1-39.5.4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 集積回路偽造はエレクトロニクスメーカ,システムインテグレータ,およびエンドユーザのための,顕著で増大的な問題である。製造サプライチェーンにおける偽造ICの広範囲な普及は,有意なセキュリティと信頼性の懸念を提起する。IC偽造と戦うために,安全なチップ走行距離計が使用/年齢の安全なゲージと本物と偽造部品間の単純な,安全な,堅牢な分化を可能にする起源の認証とICを提供するように設計した。安全なチップオドメータはチップの使用と年齢を測定するために意図的な加速デバイスエージングを用いた鎖状ワンショット二元老化要素(BAEs)を採用した。プロトタイプ安全走行距離計は,概念実証として65nmバルクCMOSプロセスで1.2mm×1.7mmテストチップにテープ固定した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 距離計 ,  ゲージ ,  走行距離 ,  集積回路 ,  ロバスト性 ,  セキュリティ ,  走行 ,  プロトタイプ ,  信頼性 ,  *安全性
準シソーラス用語： テストチップ ,  CMOSプロセス ,  サプライチェーン ,  エンドユーザ ,  *改竄 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 計算機網  (JC03000K) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (2件)： IC ,  偽造