抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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SiCやGaNに基づく設計のような新しい半導体材料の開発は,パワーエレクトロニクス応用におけるキャリア周波数の増加だけでなく,より短い立上り時間を導入する。モータ巻線故障に対する非常に一般的な理由は,部分放電(PD)の存在による。本論文では,応用において使用されているものと類似または近い波形を用いて,PDの存在を検出し,評価するための試験方法を提示した。波形は新しい三準位インバータ回路を適用することにより発生する。セットアップと検出法は,簡単なツイストペア試験サンプルまたは完全巻線に及ぼす立上り時間,反射および絶縁伝導率の影響を評価するために使用することができる。ランダムな創傷モーターに似ていることを目的としたねじれ対に関する試験からの初期測定結果を提示した。特に,導電率,誘電率および立上り時間の影響を,正方形波形を適用することによって調査した。単極側面の後に現れるPDを,完全サイズのバイポーラ電圧ステップと比較した。ゼロ電圧が再マイニング電荷に達したとき,欠陥の内部および周囲において,巻線内の電荷量に似たPDパターン(PDエコー)を生成した。試験は材料の選択による有意差を示した。導入された測定手法は,巻線を評価するためにインパルスを使用する利点を維持するが,電荷減衰測定で補完される。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】