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J-GLOBAL ID:201802291012568631   整理番号:18A1394658

ナノ構造SnO_2における異常な高誘電定数に対する面内酸素空孔に富む非化学量論層の重要性【JST・京大機械翻訳】

Significance of in-plane oxygen vacancy rich non-stoichiometric layer towards unusual high dielectric constant in nano-structured SnO2
著者 (2件):
資料名:
巻: 103  ページ: 60-65  発行年: 2018年 
JST資料番号: W1066A  ISSN: 1386-9477  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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n型SnO_2の異常に高い誘電率に対する可能な寄与に対する非化学量論層の影響を考察した。約2.4nmのSnO_2量子ドット(QD)から合成したSnO_2ナノ粒子の成長中の酸素欠乏および酸素リッチ環境は,種々の欠陥状態の創出を可能にした。しかし,それはNPの類似次元をもたらす。欠陥状態は他の電気的性質を含む誘電特性の強い変化をもたらす。Raman分光法と光ルミネセンス測定を用いて,酸素空孔関連欠陥を分光学的に解明した。本研究は,SnO_2の酸素空格子点と異常に高い誘電率の間の妥当な相関を提供した。面内酸素空孔は誘電値の増大の原因であることが分かった。巨大誘電率に含まれる現象の理解は,巨視的デバイス応用の調整と工学に利用できる。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
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酸化物薄膜  ,  塩基,金属酸化物  ,  酸化物結晶の磁性 
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