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J-GLOBAL ID：201802291101634266   整理番号：18A0522678

/上の推定無しの半導体電極の光電気化学的性能を評価するためのより正確な,信頼できる方法【Powered by NICT】

A more accurate, reliable method to evaluate the photoelectrochemical performance of semiconductor electrode without under/over estimation

著者 (3件)： Li Jing-Mei (Department of Materials Science and Engineering, National Chiao Tung University, Hsinchu, 30010, Taiwan) ,  Wang Yu-Ting (Department of Materials Science and Engineering, National Chiao Tung University, Hsinchu, 30010, Taiwan) ,  Hsu Yung-Jung (Department of Materials Science and Engineering, National Chiao Tung University, Hsinchu, 30010, Taiwan)
資料名： Electrochimica Acta  (Electrochimica Acta)
巻： 267  ページ： 141-149  発行年： 2018年 
JST資料番号： B0535B  ISSN： 0013-4686  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 半導体水分解への光電気化学(PEC)性能を評価するために提案したより正確で信頼性のある方法。従来,I-t測定は,例えば,0V対Ag/AgCl,光電流,異なる電極間の性能比較のための直接指標として考えられてきたを監視するための参照電極と比較して固定電位で行った。開回路電位(OCP)は電極から電極へ変化することを考慮して,固定電位で光電流比較は試料間の実際の相違を誤表現可能性がある。本論文では,厳密に固定適用過電圧を代表する0.1V対OCPで二つの異なる外部バイアス値が示され,一つの慣行に由来する0Vvs.Ag/AgClで他を負荷することによってPEC性能を研究した。二実験群は議論を扱うために設計されて,ZnOナノロッドアレイの熱処理の影響とZnO,TiO_2,Au修飾TiO_2,CdS電極間の地球規模の比較を含む。光電流の異なる傾向は二つの異なるバイアスで観察され,一般的考察に準拠した0.1V対OCPからの結果と比較した。結果はOCPと比較して固定電位の適用は,過小評価,又は,過大評価なしに正確なPEC性能評価のためのより公平な比較を提供するであろうことを示唆した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 酸化亜鉛 ,  電極電位 ,  *半導体電極 ,  *半導体 ,  過電圧 ,  電位 ,  硫化カドミウム ,  バイアス ,  *光電気化学 ,  基準電極 ,  性能評価 ,  光電流
準シソーラス用語： ナノロッドアレイ ,  水分解 ,  *電気化学的性能 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 光電気化学水の分解 ,  開路電位 ,  0バイアス ,  0V対Ag/AgCl

分類 (2件)： 電気化学反応  (CB07050F) ,  電極過程  (CB07040U)

タイトルに関連する用語 (5件)： 推定 ,  半導体電極 ,  電気化学的性能 ,  評価 ,  信頼