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J-GLOBAL ID:201802292000500797   整理番号:18A1698396

イメージング質量分析法を用いた有機EL素子の劣化反応機構の解明

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資料名:
巻: 79th  ページ: ROMBUNNO.19p-145-10  発行年: 2018年09月05日 
JST資料番号: Y0055B  ISSN: 2758-4704  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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分類 (1件):
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発光素子 
物質索引 (1件):
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