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J-GLOBAL ID：201802292000500797   整理番号：18A1698396

イメージング質量分析法を用いた有機EL素子の劣化反応機構の解明

著者 (5件)： 重松沙樹 (北陸先端科学技術大学院大) ,  宮里朗夫 (北陸先端大 ナノセ) ,  宮林恵子 (静岡大 大学院) ,  酒井平祐 (北陸先端科学技術大学院大) ,  村田英幸 (北陸先端科学技術大学院大)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 79th  ページ： ROMBUNNO.19p-145-10  発行年： 2018年09月05日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： エレクトロルミネセンス ,  発光ダイオード ,  *FT-ICR質量分析 ,  劣化 ,  光化学反応 ,  反応機構 ,  有機EL ,  *有機EL素子
準シソーラス用語： OLED ,  *材料劣化

分類 (1件)： 発光素子  (NC03082G)

物質索引 (1件)： トリス(8-ヒドロキシキノリン)アルミニウム

タイトルに関連する用語 (2件)： イメージング質量分析 ,  有機EL素子