特許
J-GLOBAL ID：201803000437684222
画像計測方法、システム、装置およびプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
机 昌彦
, 下坂 直樹
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-554094
特許番号：特許第6245181号
出願日： 2013年12月03日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 計測対象である植物の近傍に設置された反射体を撮影し、撮影画像を出力し、
前記撮影画像内の前記反射体の領域を検出し、
前記領域の色情報を取得し、
前記色情報に基づいて、前記領域における分光放射照度の絶対値の分布である絶対分光放射照度分布を算出し、
前記絶対分光放射照度分布に基づいて、光量子束密度を算出し、
前記光量子束密度に基づいて、葉面積指数を算出する
ことを特徴とする画像計測方法。
IPC (2件)：
G01N 21/27 ( 200 6.01)
, G01J 3/51 ( 200 6.01)
