特許

J-GLOBAL ID：201803000498260255

構造物の状態判定装置と状態判定システムおよび状態判定方法

発明者： 今井 浩
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (2件)： 机 昌彦 ,  下坂 直樹
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2016001421
公開番号（公開出願番号）：WO2016-152075
出願日： 2016年03月14日
公開日（公表日）： 2016年09月29日
要約：

本発明は、構造物のひび割れや剥離や内部空洞などの欠陥を区別した検出を、遠隔から非接触で精度良く行うことを目的とする。本発明の状態判定装置は、構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記時系列画像の変位の2次元空間分布を算出する変位算出部と、前記時系列画像の変位の2次元空間分布から、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向への移動量に基づく補正量を算出する補正量算出部と、前記時系列画像の変位の2次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の2次元空間分布を抽出する変位補正部と、前記構造物表面の変位の2次元空間分布と、予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する異常判定部と、を有する。

請求項（抜粋）：

構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記時系列画像の変位の2次元空間分布を算出する変位算出手段と、 前記時系列画像の変位の2次元空間分布から、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向への移動量に基づく補正量を算出する補正量算出手段と、 前記時系列画像の変位の2次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の2次元空間分布を抽出する変位補正手段と、 前記構造物表面の変位の2次元空間分布と、予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する異常判定手段と、を有する、状態判定装置。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  G01M 99/00 ,  G01B 11/30

FI (3件)：

G01N21/88 Z ,  G01M99/00 Z ,  G01B11/30 A

Fターム (43件)：

2F065AA03 ,  2F065AA09 ,  2F065AA20 ,  2F065AA35 ,  2F065AA37 ,  2F065AA49 ,  2F065CC14 ,  2F065CC40 ,  2F065DD02 ,  2F065DD03 ,  2F065EE00 ,  2F065EE05 ,  2F065EE11 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ38 ,  2F065RR09 ,  2G024AD34 ,  2G024BA22 ,  2G024BA27 ,  2G024CA04 ,  2G024CA22 ,  2G051AA90 ,  2G051AB03 ,  2G051AB06 ,  2G051AB07 ,  2G051CA04 ,  2G051EA08 ,  2G051EA12 ,  2G051EB01 ,  2G051EC01 ,  2G051EC04 ,  2G051EC06 ,  2G051ED04 ,  2G051ED13