特許

J-GLOBAL ID：201803000572950684

セレンの分析方法及びそれに用いる前処理キット並びに前処理方法

発明者： 長谷川 浩 ,  宮口 真帆 ,  澤井 光 ,  高見 満 ,  前田 勝弘
出願人/特許権者： 国立大学法人金沢大学 ,  北陸電力株式会社
代理人 (1件)： 大谷 嘉一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-095990
公開番号（公開出願番号）：特開2018-194342
出願日： 2017年05月12日
公開日（公表日）： 2018年12月06日
要約：

【課題】硫酸イオン等のイオン化合物のイオンの影響を抑えることができる前処理キット及び前処理方法を提供することで、簡易的でありながら精度の高いセレンの分析方法の提供を目的とする。【解決手段】セレンイオンを選択的に固相抽出するための固相抽出剤からなるセレン分析用前処理キットであって、前記固相抽出剤は、担体に超分子型の大環状物質が多層に担持されているものであることを特徴とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

セレンイオンを選択的に固相抽出するための固相抽出剤からなるセレン分析用前処理キットであって、 前記固相抽出剤は、担体に超分子型の大環状物質が多層に担持されているものであることを特徴とするセレン分析用前処理キット。

IPC (2件)：

G01N 31/00 ,  G01N 1/10

FI (3件)：

G01N31/00 Y ,  G01N1/10 C ,  G01N31/00 T

Fターム (15件)：

2G042AA01 ,  2G042BB20 ,  2G042CA02 ,  2G042CB03 ,  2G042DA03 ,  2G042EA03 ,  2G052AA06 ,  2G052AD06 ,  2G052AD26 ,  2G052AD46 ,  2G052EB04 ,  2G052ED07 ,  2G052ED11 ,  2G052GA15 ,  2G052GA27