特許
J-GLOBAL ID:201803000847387551
質量分析装置及び質量分析方法、並びに解析装置及び解析方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
廣田 浩一
, 流 良広
, 松田 奈緒子
, 山下 武志
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-079391
公開番号(公開出願番号):特開2018-181600
出願日: 2017年04月13日
公開日(公表日): 2018年11月15日
要約:
【課題】現場において前処理なしで、リアルタイムに、安全かつ正確に、サンプリング、イオン化、及び質量分析を行うことができる質量分析装置及び質量分析方法、並びにこれらを用いたマススペクトルの解析装置及び解析方法の提供。【解決手段】対象物から検体を採取し、直ちに、採取した検体中の成分をイオン化するサンプリング手段と、サンプリング手段により生成したイオンを質量分析するリアルタイム分析手段と、を有する質量分析装置である。【選択図】図1
請求項(抜粋):
対象物から検体を採取し、直ちに、採取した前記検体中の成分をイオン化するサンプリング手段と、
前記サンプリング手段により生成したイオンを質量分析するリアルタイム分析手段と、
を有することを特徴とする質量分析装置。
IPC (4件):
H01J 49/04
, G01N 27/62
, A61B 1/018
, H01J 49/34
FI (5件):
H01J49/04
, G01N27/62 F
, G01N27/62 G
, A61B1/018 515
, H01J49/34
Fターム (12件):
2G041CA01
, 2G041DA05
, 2G041EA01
, 2G041EA03
, 2G041GA16
, 2G041JA01
, 4C161GG11
, 4C161HH51
, 5C038EE02
, 5C038EE03
, 5C038EF02
, 5C038EF16
引用特許:
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