特許

J-GLOBAL ID：201803001553698288

テスト支援プログラム、テスト支援装置及びテスト支援方法

発明者： 小池 敬藏 ,  長瀬 義大 ,  中野 太智
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (2件)： 土井 健二 ,  林 恒徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-124735
公開番号（公開出願番号）：特開2017-228143
出願日： 2016年06月23日
公開日（公表日）： 2017年12月28日
要約：

【課題】取得された資料に関連するテスト項目の特定を効率的に行うことを可能とするテスト支援プログラム、テスト支援装置及びテスト支援方法を提供する。【解決手段】記憶部に記憶された複数のプログラムのうち、指定されたアドレスに記憶された特定のプログラムを読み出す際に、プログラムの識別情報を各プログラムが記憶されたアドレスに対応付けて記憶する記憶部を参照して、指定されたアドレスに対応付けられた特定のプログラムの識別情報を取得し、特定のイベントを検出すると、各プログラムの実行に伴って出力される資料を記憶する記憶部を参照して、特定のプログラムに対応する特定の資料を取得し、取得した特定の資料に関する情報を、取得した特定のプログラムの識別情報に対応付けて記憶部に記憶する。【選択図】図6

請求項（抜粋）：

記憶部に記憶された複数のプログラムのうち、指定されたアドレスに記憶された特定のプログラムを読み出す際に、プログラムの識別情報を各プログラムが記憶されたアドレスに対応付けて記憶する記憶部を参照して、指定された前記アドレスに対応付けられた前記特定のプログラムの識別情報を取得し、 特定のイベントを検出すると、各プログラムの実行に伴って出力される資料を記憶する記憶部を参照して、前記特定のプログラムに対応する特定の資料を取得し、 取得した前記特定の資料に関する情報を、取得した前記特定のプログラムの識別情報に対応付けて記憶部に記憶する、 処理をコンピュータに実行させることを特徴とするテスト支援プログラム。

IPC (2件)：

G06F 11/36 ,  G06F 9/44

FI (3件)：

G06F11/36 164 ,  G06F9/06 620K ,  G06F11/36 180

Fターム (4件)：

5B042HH12 ,  5B042HH19 ,  5B042MC12 ,  5B376BC61