特許

J-GLOBAL ID：201803002120910483

電力変換装置の診断システム、半導体モジュールの診断方法、および、電力変換装置

発明者： 木村 嘉伸 ,  坂野 順一 ,  古川 公久 ,  小川 貴史 ,  山田 廉一
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 青稜特許業務法人
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2016063737
公開番号（公開出願番号）：WO2017-195247
出願日： 2016年05月09日
公開日（公表日）： 2017年11月16日
要約：

半導体装置を備え、主回路へ主電流を導通、遮断するスイッチ動作を行う電力変換装置の診断システムが開示される。このシステムでは、スイッチ動作の基準時間を取得するトリガ回路と、主電流の第1の主電流設定値における第1の時間と、第2の主電流設定値における第2の時間とを取得し、第1の時間と基準時間との差の数値データと、第2の時間と基準時間の差の数値データを検出する遅延時間算出回路を備える。

請求項（抜粋）：

半導体装置を備え、主回路へ主電流を導通、遮断するスイッチ動作を行う電力変換装置の診断システムであって、 前記スイッチ動作の基準時間を取得するトリガ回路と 前記主電流の第1の主電流設定値における第1の時間と、第2の主電流設定値における第2の時間とを取得し、前記第1の時間と前記基準時間との差の数値データと、前記第2の時間と前記基準時間の差の数値データを検出する遅延時間算出回路を備える、 電力変換装置の診断システム。

IPC (1件)：

G01R 31/26

FI (1件)：

G01R31/26 A

Fターム (5件)：

2G003AA01 ,  2G003AB09 ,  2G003AB16 ,  2G003AH02 ,  2G003AH10