特許

J-GLOBAL ID：201803002899362584

X線CT装置及びX線CT装置における焦点位置制御方法

発明者： 小川 美奈
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 特許業務法人 山王坂特許事務所
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2016073065
公開番号（公開出願番号）：WO2017-047275
出願日： 2016年08月05日
公開日（公表日）： 2017年03月23日
要約：

熱に起因するX線焦点移動が生じた場合であっても、X線焦点位置を適切に検出するために、X線管装置101からのX線が通る細孔が形成されるスリット部材110と、X線の焦点の位置を検出する焦点位置計測用検出器111と、制御部108とを有し、焦点位置計測用検出器111は、複数の検出領域111a、111bに入射するX線量を前記検出領域ごとに検出し、制御部108は、複数の検出領域111a、111bの検出値を対比することで、X線の焦点の基準位置に対するX線の焦点位置の変位量を求め、スリット部材110と焦点位置計測用検出器111における検出領域111a、111bとの相対位置を変更する。

請求項（抜粋）：

X線を照射するX線発生部と、 前記X線発生部からのX線が通る細孔が形成される開口部材と、 前記X線の焦点の位置を移動させるX線焦点偏向部と、 並べて配置された複数の検出領域を備える焦点位置検出部と、 焦点位置制御部と、を有し、 前記焦点位置検出部は、前記開口部材を通過して前記複数の検出領域に入射するX線量を前記検出領域ごとに検出し、 前記焦点位置制御部は、前記焦点位置検出部の複数の前記検出領域の検出値を対比することで基準位置に対する前記焦点の変位量を検出し、検出される前記変位量が打ち消されるように前記開口部材と前記検出領域との相対位置を変更することを特徴とするX線CT装置。

IPC (1件)：

A61B 6/03

FI (4件)：

A61B6/03 330A ,  A61B6/03 320C ,  A61B6/03 320K ,  A61B6/03 320P

Fターム (13件)：

4C093AA21 ,  4C093CA01 ,  4C093CA18 ,  4C093CA36 ,  4C093EA03 ,  4C093EA14 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FA15 ,  4C093FA20 ,  4C093FA45 ,  4C093FA54