特許
J-GLOBAL ID:201803002935637242

光検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森下 賢樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-071742
公開番号(公開出願番号):特開2018-174239
出願日: 2017年03月31日
公開日(公表日): 2018年11月08日
要約:
【課題】光強度に応じた周波数(もしくは密度)を有するパルス信号を生成可能な光検出装置を提供する。【解決手段】光検出装置100は、発振器110を備える。発振器110は、少なくとも負性抵抗回路120およびキャパシタCPを含む。負性抵抗回路120には受光部122が設けられており、外部から照射される光2の強度に応じて負性微分抵抗特性が変化する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
少なくとも一部の動作領域で負性微分抵抗特性を示し、照射される光強度に応じて前記負性微分抵抗特性が変化する負性抵抗回路を含む発振器を備えることを特徴とする光検出装置。
IPC (2件):
H01L 51/42 ,  H03K 17/78
FI (2件):
H01L31/08 T ,  H03K17/78 H
Fターム (8件):
5F849AA17 ,  5F849AB11 ,  5F849BB20 ,  5F849CB20 ,  5F849KA20 ,  5F849XA32 ,  5J050BB16 ,  5J050FF09

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