特許
J-GLOBAL ID:201803003335013128

ガラス基板の面取り装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 八木澤 史彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-073392
公開番号(公開出願番号):特開2018-126860
出願日: 2018年04月05日
公開日(公表日): 2018年08月16日
要約:
【課題】定量面取りを実現でき、且つ、不良発生率を最小化できるガラス基板の面取り装置及び方法を提供する。【解決手段】ガラス基板の面取り装置100は、ガラス基板Gの切断面に倣って面取りを行なう面取り部120と、前記切断面の位置情報を取得する測定部110、及び前記測定部110から前記切断面の位置情報を受け取り、受け取った前記切断面の位置情報に基づいて前記面取り部120の位置を制御する制御部130と、を含む。また、測定部110は、切断面の映像を撮影する第1の測定ユニット111、及び面取り後の切断面の映像を撮影する第2の測定ユニット112、面取り部120を撮影する別の測定ユニットを備えることを特徴とする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
ガラス基板の切断面に倣って面取りを行なう面取り部と、 前記切断面の位置情報を取得する測定部、及び 前記測定部から前記切断面の位置情報を受け取り、受け取った前記切断面の位置情報に基づいて前記面取り部の位置を制御する制御部と、 を含み、 前記測定部は、 前記ガラス基板の搬送経路を基準にして前記面取り部の前方に配置され、前記切断面の映像を撮影して、該映像を前記制御部へ送る第1の測定ユニット、及び 前記ガラス基板の搬送経路を基準にして前記面取り部の後方に配置され、面取り後の前記切断面の映像を撮影して、該映像を前記制御部へ送る第2の測定ユニットを含み、 前記測定部は、さらに、前記面取り部の位置あるいは前記搬送経路を補完するために、前記面取り部を撮影する別の測定ユニットを備えることを特徴とするガラス基板の面取り装置。
IPC (2件):
B24B 9/10 ,  B24B 49/12
FI (2件):
B24B9/10 D ,  B24B49/12
Fターム (24件):
3C034AA19 ,  3C034BB91 ,  3C034CA03 ,  3C034CA04 ,  3C034CA12 ,  3C034CA13 ,  3C034CA22 ,  3C034CA26 ,  3C034CB01 ,  3C034CB08 ,  3C034CB14 ,  3C034DD08 ,  3C034DD20 ,  3C049AA03 ,  3C049AA13 ,  3C049AB03 ,  3C049AB04 ,  3C049AC02 ,  3C049BA02 ,  3C049BA07 ,  3C049BB02 ,  3C049BC02 ,  3C049CA06 ,  3C049CB01
引用特許:
審査官引用 (2件)

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