特許

J-GLOBAL ID：201803003446776856

劣化個所推定装置、劣化個所推定システム及び劣化個所推定方法

発明者： 阿部 芳春
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (6件)： 田澤 英昭 ,  濱田 初音 ,  中島 成 ,  坂元 辰哉 ,  辻岡 将昭 ,  井上 和真
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2016084603
公開番号（公開出願番号）：WO2018-096582
出願日： 2016年11月22日
公開日（公表日）： 2018年05月31日
要約：

劣化個所推定装置(6)は、検査対象機器に設けられた複数個のマイクロホン(131〜133)の各々に対応するマイク信号(DS1,DS2,DS3)を取得して、マイク信号(DS1,DS2,DS3)の各々に対応する短時間フーリエ変換係数の時系列を計算する短時間フーリエ変換部(31)と、短時間フーリエ変換係数の時系列を用いてニューラルネットワークに対する入力用の時系列配列を生成する時系列配列生成部(32)と、ニューラルネットワークにより構成されており、時系列配列の入力を受け付けて検査対象機器における検査対象個所に対応する劣化度を出力するニューラルネットワーク部(35)と、劣化度を用いて検査対象機器における劣化個所を判定する判定部(36)とを備える。

請求項（抜粋）：

検査対象機器に設けられた複数個のマイクロホンの各々に対応するマイク信号を取得して、前記マイク信号の各々に対応する短時間フーリエ変換係数の時系列を計算する短時間フーリエ変換部と、 前記短時間フーリエ変換係数の時系列を用いてニューラルネットワークに対する入力用の時系列配列を生成する時系列配列生成部と、 前記ニューラルネットワークにより構成されており、前記時系列配列の入力を受け付けて前記検査対象機器における検査対象個所に対応する劣化度を出力するニューラルネットワーク部と、 前記劣化度を用いて前記検査対象機器における劣化個所を判定する判定部と、 を備える劣化個所推定装置。

IPC (1件)：

G01H 17/00

FI (1件)：

G01H17/00 Z

Fターム (8件)：

2G064AB15 ,  2G064AB22 ,  2G064CC29 ,  2G064CC43 ,  2G064CC47 ,  3F304BA02 ,  3F304BA26 ,  3F304ED01