特許
J-GLOBAL ID：201803003634753081
探傷方法及び探傷装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
長谷川 芳樹
, 黒木 義樹
, 安田 亮輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-139484
公開番号（公開出願番号）：特開2018-009893
出願日： 2016年07月14日
公開日（公表日）： 2018年01月18日
要約：
【課題】探傷対象面が複雑な形状をしている場合であっても、探傷対象面に係る磁界の測定を効率よく行う。【解決手段】対象物の探傷対象面近傍での磁界を測定することにより表層のきずを探傷する方法であって、不連続部を有する前記対象物の探傷対象面に沿って、当該不連続部に対して交差する方向に磁気センサを走査することにより、当該磁気センサの位置に係る位置情報と、当該位置情報により特定される位置において当該磁気センサにより測定された磁界に係る磁界情報と、を取得する取得ステップと、前記取得ステップにおいて取得された前記磁界情報及び前記位置情報に対して、前記探傷対象面の形状を示す形状情報を組み合わせることにより、前記探傷対象面における磁界の分布を示す磁界分布情報を作成する磁界分布情報作成ステップと、を有する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
対象物の探傷対象面近傍での磁界を測定することにより表層のきずを探傷する探傷方法であって、
不連続部を有する前記探傷対象面に沿って、当該不連続部に対して交差する方向に磁気センサを走査することにより、当該磁気センサの位置に係る位置情報と、当該位置情報により特定される位置において当該磁気センサにより測定された磁界に係る磁界情報と、を取得する取得ステップと、
前記取得ステップにおいて取得された前記磁界情報及び前記位置情報に対して、前記探傷対象面の形状を示す形状情報を組み合わせることにより、前記探傷対象面における磁界の分布を示す磁界分布情報を作成する磁界分布情報作成ステップと、
を有する探傷方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (8件)：
2G053AA11
, 2G053AB22
, 2G053BA02
, 2G053BB11
, 2G053BC14
, 2G053CA01
, 2G053CA03
, 2G053DB19
