特許
J-GLOBAL ID:201803004251763179

2つの別個の構造部分間の相対位置の測定システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 蔵田 昌俊 ,  野河 信久 ,  峰 隆司 ,  砂川 克
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-537406
特許番号:特許第6297579号
出願日: 2013年10月17日
請求項(抜粋):
【請求項1】 2つの別個の構造部分(2a、2b)間の相対位置の測定システム(1)であって、 磁界(B)を生成するように適合され、前記構造部分の一方(2a)に適用可能である、本体(3)と、前記構造部分の他方(2b)に適用可能であり、三軸ホール効果センサである、少なくとも1つのセンサ(5)とを備え、 前記センサ(5)および前記本体(3)は、前記センサ(5)を横切る前記磁界(B)の力線の方向が変化するように前記磁界(B)の対称軸(h)に対して垂直方向に従って相対的に移動可能であり、前記センサ(5)は、前記磁界(B)の強さの3つのベクトル成分(Bx、By、Bz)を検出するために構成される、測定システム(1)において、 前記少なくとも1つのセンサ(5)によって検出される前記3つのベクトル成分(Bx、By、Bz)の処理ブロックをさらに備え、 前記処理ブロックは、以下の式のように定められる前記磁界(B)の少なくとも1つの径方向成分(Br)を計算するように構成され、 および、以下の式から前記対称軸(h)からの距離(r)を計算するように構成され、 式中で、f1およびf2は、多項式であることを特徴とする、測定システム(1)。
IPC (3件):
G01B 7/14 ( 200 6.01) ,  G01B 7/00 ( 200 6.01) ,  G01D 5/14 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01B 7/14 ,  G01B 7/00 103 M ,  G01D 5/14 H
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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