特許
J-GLOBAL ID：201803005485727563

肌評価方法、肌評価装置、及び肌改善推奨方法

発明者：
石黒 陽平

石黒 陽平 について


出願人/特許権者：
株式会社桃谷順天館

株式会社桃谷順天館 について


代理人 (1件)： 沖中 仁
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-195963
公開番号（公開出願番号）：特開2018-057513
出願日： 2016年10月03日
公開日（公表日）： 2018年04月12日
要約：
【課題】非侵襲でありながら、簡便かつ高精度に肌の状態を評価することができる肌評価方法、及び肌評価装置を提供する。【解決手段】肌に発現する乳白色のふくらみに基づいて、前記肌の状態を評価する肌評価方法。当該肌評価方法は、肌の画像を取得する画像取得工程と、肌の画像から乳白色のふくらみに関するふくらみ情報を抽出する抽出工程と、ふくらみ情報を定量化してふくらみ指数を求める算出工程と、ふくらみ指数を前記肌の状態に関連付ける関連付け工程と、を包含する。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
肌に発現する乳白色のふくらみに基づいて、前記肌の状態を評価する肌評価方法。
IPC (2件)：
A61B 5/107 ,  A61B 5/00
FI (2件)：
A61B5/10 300Q ,  A61B5/00 101A
Fターム (19件)：
4C038VA04 ,  4C038VB22 ,  4C038VC05 ,  4C117XA02 ,  4C117XB13 ,  4C117XD05 ,  4C117XE43 ,  4C117XG06 ,  4C117XJ13 ,  4C117XJ32 ,  4C117XJ42 ,  4C117XK04 ,  4C117XK05 ,  4C117XK09 ,  4C117XK33 ,  4C117XL12 ,  4C117XL23 ,  4C117XM15 ,  4C117XP12
引用特許：
審査官引用 (5件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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