特許
J-GLOBAL ID：201803005765611307

半導体装置、半導体装置の判定方法及び半導体装置の判定プログラム

発明者：
▲濱▼田 祐介

▲濱▼田 祐介 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (2件)： 平川 明 ,  高田 大輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-137736
公開番号（公開出願番号）：特開2018-010930
出願日： 2016年07月12日
公開日（公表日）： 2018年01月18日
要約：
【課題】半導体装置における各層の半導体チップの設計を変更せずに、各半導体チップに入力される信号の入力方向を判定する。【解決手段】第1端子を介して第1の装置に接続されるとともに第2端子を介して第2の装置に接続され、第1の装置又は第2の装置が入力する信号の入力方向を判定する判定回路を有する半導体装置において、判定回路は、判定信号を出力する出力端子に接続された第1信号出力部と、第1端子、出力端子及び第1信号出力部に接続され、第1の装置から第1端子に信号が入力された場合、判定信号の出力元を第1端子に切り替えるとともに、第2の装置から第2端子に信号が入力された場合、判定信号の出力元を第1信号出力部に切り替えることにより、判定信号の出力元が第1端子である場合と判定信号の出力元が第1信号出力部である場合とで、出力端子が出力する判定信号の電位レベルを変更させる切り替え部と、を有する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
第1端子を介して第1の装置に接続されるとともに第2端子を介して第2の装置に接続され、前記第1の装置又は前記第2の装置が入力する信号の入力方向を判定する判定回路を有する半導体装置において、 前記判定回路は、 判定信号を出力する出力端子に接続された第1信号出力部と、 前記第1端子、前記出力端子及び前記第1信号出力部に接続され、前記第1の装置から前記第1端子に信号が入力された場合、前記判定信号の出力元を前記第1端子に切り替えるとともに、前記第2の装置から前記第2端子に信号が入力された場合、前記判定信号の出力元を前記第1信号出力部に切り替えることにより、前記判定信号の出力元が前記第1端子である場合と前記判定信号の出力元が前記第1信号出力部である場合とで、前記出力端子が出力する判定信号の電位レベルを変更させる切り替え部と、 を有することを特徴とする半導体装置。
IPC (5件)：
H01L 25/065 ,  H01L 25/07 ,  H01L 25/18 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04
FI (2件)：
H01L25/08 C ,  H01L27/04 E
Fターム (8件)：
5F038BE07 ,  5F038BE08 ,  5F038CA06 ,  5F038CA10 ,  5F038DF04 ,  5F038DF05 ,  5F038EZ07 ,  5F038EZ20
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • 半導体集積回路のテスト回路及び方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2012-100649   出願人：エスケーハイニックス株式会社
  • 半導体装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2012-030145   出願人：エスケーハイニックス株式会社
  • 3次元集積回路
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-271500   出願人：独立行政法人産業技術総合研究所
審査官引用 (3件)
  • 半導体集積回路のテスト回路及び方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2012-100649   出願人：エスケーハイニックス株式会社
  • 半導体装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2012-030145   出願人：エスケーハイニックス株式会社
  • 3次元集積回路
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-271500   出願人：独立行政法人産業技術総合研究所

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