特許
J-GLOBAL ID:201803006143148665

3次元歪測定のためのフィールドスプリッタ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 青木 篤 ,  三橋 真二 ,  廣瀬 繁樹 ,  伊藤 健太郎
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-511009
公開番号(公開出願番号):特表2018-525642
出願日: 2016年07月25日
公開日(公表日): 2018年09月06日
要約:
本開示は、材料試験を受けている材料試験サンプルの2つの異なるビューを組み合わせて単一の画像にすることを目的としてフィールドスプリッタ又はビームスプリッタを用いる装置及び方法を提供する。これによって、材料/複合物試験の状況における3次元歪測定が可能になる。特に、時間依存歪及び応力依存歪を計算するために、ゲージ長の時間依存変化及び応力依存変化を追跡及び計算することができる。本方法及び本装置によって、3次元歪計算のための単一のイメージセンサ上での撮像が可能になる。【選択図】図7
請求項(抜粋):
第1の角度及び第2の角度からの材料試験サンプルの第1の画像及び第2の画像を受信し、該第1の画像及び該第2の画像を組み合わせて単一の合成画像にするデバイスと、 前記単一の合成画像を受信し、単一のデジタル画像を生成するデバイスと、 前記単一のデジタル画像を受信し、前記材料試験サンプルに関して歪計算を実行するデバイスと、 を備える、歪の測定及び計算のためのデバイス。
IPC (1件):
G01N 3/08
FI (1件):
G01N3/08
Fターム (5件):
2G061AA01 ,  2G061AB01 ,  2G061EA04 ,  2G061EB07 ,  2G061EC05
引用特許:
審査官引用 (5件)
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