特許
J-GLOBAL ID：201803006364926700
電磁波のビーム観測方法及び観測システム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
福森 久夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-170007
公開番号（公開出願番号）：特開2018-036158
出願日： 2016年08月31日
公開日（公表日）： 2018年03月08日
要約：
【課題】ジャイロトロン等によって発生するマイクロ波、テラヘルツ波、赤外光のビームの位置またはプロファイルのより簡便な観測方法及びシステムを提供すること。【解決手段】酸化亜鉛結晶からの発光を用いることによってジャイロトロンなどから出る電磁波のビームの位置またはプロファイルを観測する方法及びシステム。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
マイクロ波、テラヘルツ波または赤外光のビームの位置またはプロファイルを観測する方法において、酸化亜鉛結晶からの発光を用いることを特徴とする電磁波のビーム観測方法。
IPC (3件)：
G01J 1/02
, C30B 29/16
, G01J 1/42
G01J1/02 L
, C30B29/16
, G01J1/42 E
2G065AA20
, 2G065AB02
, 2G065AB03
, 2G065BA04
, 2G065BA06
, 2G065BA34
, 4G077AA02
, 4G077AB04
, 4G077BB07
, 4G077CB03
, 4G077HA02
, 4G077KA15
