特許
J-GLOBAL ID:201803006477452713
ビーム品質判定装置、ビーム品質判定方法、及びレーザ加工装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
来山 幹雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-222051
公開番号(公開出願番号):特開2018-081976
出願日: 2016年11月15日
公開日(公表日): 2018年05月24日
要約:
【課題】従来とは異なる観点でレーザビームの品質を判定するビーム品質判定装置を提供する。【解決手段】レーザビームの経路に配置された検出器が、レーザビームの基本横モードの成分と高次横モードの成分との比に依存する物理量を検出する。判定部が、検出器で検出された物理量に基づいてレーザビームの品質を判定する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
レーザビームの経路に配置され、前記レーザビームの基本横モードの成分と高次横モードの成分との比に依存する物理量を検出する検出器と、
前記検出器で検出された前記物理量に基づいて、前記レーザビームの品質を判定する判定部と
を有するビーム品質判定装置。
IPC (2件):
FI (3件):
H01S3/00 G
, B23K26/00 M
, H01S3/00 B
Fターム (14件):
4E168AD11
, 4E168CA02
, 4E168CA11
, 4E168DA23
, 4E168DA43
, 4E168DA44
, 4E168EA03
, 5F172AD05
, 5F172NP02
, 5F172NP12
, 5F172NP16
, 5F172NP18
, 5F172ZA04
, 5F172ZZ01
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