特許
J-GLOBAL ID:201803006523655411
集計されたメトリクスの測定値のデータストア
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
龍華国際特許業務法人
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-562281
公開番号(公開出願番号):特表2018-522336
出願日: 2016年06月24日
公開日(公表日): 2018年08月09日
要約:
コンピューティングリソースモニタリングサービスは、リクエストを受信して、コンピューティングリソースに関連するメトリクスの測定値を保存する。リクエストは、測定値自体及び測定値の属性を指定する測定値に対するメタデータを含む。メタデータに少なくとも部分的に基づいて、コンピューティングリソースモニタリングサービスは、完全修飾メトリクス識別子を生成し、識別子を用いて測定値の配置のための論理パーティションを選択する。コンピューティングリソースモニタリングサービスは、論理パーティションから、測定値を1つまたは複数のメモリ内データストアを備える集計サブシステムに送信する。コンピューティングリソースモニタリングサービスは、測定値を、集計サブシステム内のメモリ内データストアに保存する。
請求項(抜粋):
1つまたは複数のサービスを実装するように構成された少なくとも1つのコンピューティングデバイスを備えるシステムであって、前記1つまたは複数のサービスが、
メトリクスの複数の測定値を保存するリクエストを受信することであって、前記リクエストは、前記メトリクスの他の測定値を保存するための先のリクエストで受信されたメタデータと同一のメタデータを有さない、前記リクエストを受信することと、
前記複数の測定値に対するメトリクス識別子を判定することと、
前記メトリクス識別子を用いて前記複数の測定値を保存し、前記メトリクスの測定値を検索するための、前記メタデータを指定しているリクエストに応答する情報が、前記複数の測定値及び前記他の測定値の少なくとも両方を含むようにすることと、
を行うように構成された、前記システム。
IPC (2件):
FI (4件):
G06F11/30 186
, G06F12/00 511C
, G06F12/00 545A
, G06F11/30 140A
Fターム (6件):
5B042MA08
, 5B042MA09
, 5B042MA11
, 5B042MA14
, 5B042MA16
, 5B042MC22
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