特許
J-GLOBAL ID：201803006793687889
試料容器の位置ずれ検出方法およびそれを用いた撮像方法、ならびに試料容器の位置ずれ検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
島田 明宏
, 川原 健児
, 奥田 邦廣
, 河本 悟
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-183669
公開番号（公開出願番号）：特開2018-048869
出願日： 2016年09月21日
公開日（公表日）： 2018年03月29日
要約：
【課題】撮像装置に載置された試料容器の位置ずれを処理に必要なデータ量を増大させることなく高速に精度良く検出する方法を提供する。【解決手段】2つのウェルを選択し(ステップS10)、それらの上下左右の論理エッジ座標を算出する(ステップS20)。各論理エッジ座標近傍の撮像を行い(ステップS30)、各撮像画像に対して矩形分離度フィルタを適用し、各撮像画像について分離度のピーク値が得られたときの矩形分離度フィルタの中心位置の座標を仮エッジ座標として検出する(ステップS40)。その後、ステップS10で選択された各ウェルにつき、上下左右の仮エッジ座標に基づいて実際の中心座標を算出する(ステップS60)。最後に、ステップS10で選択された2つのウェルの中心座標に基づいてウェルプレートの理想的な載置状態からの位置ずれ量を算出する(ステップS70)。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
複数の試料収納部を有する試料容器が撮像装置の試料容器保持部に載置された際の前記試料容器の理想的な載置状態からの位置ずれ量を検出する、試料容器の位置ずれ検出方法であって、
前記複数の試料収納部の中から2つの試料収納部を位置ずれ検出用試料収納部として選択する試料収納部選択ステップと、
各位置ずれ検出用試料収納部につき、理想的な載置状態における上端、下端、左端、および右端の座標である論理エッジ座標を算出する論理エッジ座標算出ステップと、
前記論理エッジ座標算出ステップで算出された各論理エッジ座標を中心位置として所定範囲の撮像を行う撮像ステップと、
各位置ずれ検出用試料収納部につき、前記撮像ステップでの撮像で得られた上端側、下端側、左端側、および右端側の各撮像画像に対して2つの領域間の分離度を求める分離度フィルタを当該分離度フィルタの中心位置をずらしつつ適用し、各撮像画像について分離度のピーク値が得られたときの当該分離度フィルタの中心位置の座標を仮エッジ座標として検出する仮エッジ座標検出ステップと、
各位置ずれ検出用試料収納部につき、前記仮エッジ座標検出ステップで検出された上端側、下端側、左端側、および右端側の仮エッジ座標に基づいて実際の中心座標を算出する中心座標算出ステップと、
前記中心座標算出ステップで算出された各位置ずれ検出用試料収納部の中心座標に基づいて、前記試料容器の理想的な載置状態からの位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出ステップと
を含むことを特徴とする、試料容器の位置ずれ検出方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (14件)：
2F065AA03
, 2F065AA12
, 2F065GG15
, 2F065GG23
, 2F065GG24
, 2F065HH15
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065PP03
, 2F065PP12
, 2F065QQ03
, 2F065QQ24
, 2F065QQ32
, 2F065QQ41
