特許
J-GLOBAL ID:201803006881366758

転写シート、該転写シートを用いた加飾成形品の製造方法、及び該転写シートの成形用型

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 大谷 保 ,  平澤 賢一 ,  中谷 将之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-045025
公開番号(公開出願番号):特開2018-144460
出願日: 2017年03月09日
公開日(公表日): 2018年09月20日
要約:
【課題】意匠性及び歩留まりに優れた加飾成形品が得られる転写シートを提供する。【解決手段】離型シート10上に転写層20を有する転写シート100であって、前記離型シー10トの前記転写層20と接する側の面は、第1領域Xと、前記第1領域Xに隣接する第2領域Yとを有してなり、JIS B0601:1994に準じて測定される前記第1領域Xのカットオフ値0.8mmでの算術平均粗さRa1と、JIS B0601:1994に準じて測定される前記第2領域Yのカットオフ値0.8mmでの算術平均粗さRa2とが、Ra1>Ra2の関係を満たし、JIS B0601:1994に準じて測定される前記第1領域のカットオフ値0.8mmでの十点平均粗さRz1と、前記Ra1とが、2.0≦Rz1/Ra1≦15.0の関係を満たす、転写シート100。【選択図】図1
請求項(抜粋):
離型シート上に転写層を有する転写シートであって、 前記離型シートの前記転写層と接する側の面は、第1領域Xと、前記第1領域Xに隣接する第2領域Yとを有してなり、 JIS B0601:1994に準じて測定される前記第1領域Xのカットオフ値0.8mmでの算術平均粗さRa1と、JIS B0601:1994に準じて測定される前記第2領域Yのカットオフ値0.8mmでの算術平均粗さRa2とが、Ra1>Ra2の関係を満たし、 JIS B0601:1994に準じて測定される前記第1領域のカットオフ値0.8mmでの十点平均粗さRz1と、前記Ra1とが、2.0≦Rz1/Ra1≦15.0の関係を満たす、転写シート。
IPC (3件):
B32B 27/00 ,  B29C 45/14 ,  B44C 1/17
FI (5件):
B32B27/00 B ,  B32B27/00 L ,  B29C45/14 ,  B44C1/17 G ,  B44C1/17 L
Fターム (33件):
3B005EA06 ,  3B005EB01 ,  3B005EB05 ,  3B005EC00 ,  3B005FB11 ,  3B005FE21 ,  4F100AK25 ,  4F100AK42 ,  4F100AK51 ,  4F100AR00B ,  4F100AT00A ,  4F100BA02 ,  4F100BA07 ,  4F100EC04B ,  4F100EH46 ,  4F100EJ08 ,  4F100EJ53 ,  4F100EJ54 ,  4F100EJ65 ,  4F100GB33 ,  4F100GB48 ,  4F100GB84 ,  4F100JB14 ,  4F100JK15 ,  4F100JK15A ,  4F100JL14A ,  4F100YY00A ,  4F206AD09 ,  4F206AD10 ,  4F206AF01 ,  4F206AR13 ,  4F206JA07 ,  4F206JB19

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