特許
J-GLOBAL ID:201803006881366758
転写シート、該転写シートを用いた加飾成形品の製造方法、及び該転写シートの成形用型
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
大谷 保
, 平澤 賢一
, 中谷 将之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-045025
公開番号(公開出願番号):特開2018-144460
出願日: 2017年03月09日
公開日(公表日): 2018年09月20日
要約:
【課題】意匠性及び歩留まりに優れた加飾成形品が得られる転写シートを提供する。【解決手段】離型シート10上に転写層20を有する転写シート100であって、前記離型シー10トの前記転写層20と接する側の面は、第1領域Xと、前記第1領域Xに隣接する第2領域Yとを有してなり、JIS B0601:1994に準じて測定される前記第1領域Xのカットオフ値0.8mmでの算術平均粗さRa1と、JIS B0601:1994に準じて測定される前記第2領域Yのカットオフ値0.8mmでの算術平均粗さRa2とが、Ra1>Ra2の関係を満たし、JIS B0601:1994に準じて測定される前記第1領域のカットオフ値0.8mmでの十点平均粗さRz1と、前記Ra1とが、2.0≦Rz1/Ra1≦15.0の関係を満たす、転写シート100。【選択図】図1
請求項(抜粋):
離型シート上に転写層を有する転写シートであって、
前記離型シートの前記転写層と接する側の面は、第1領域Xと、前記第1領域Xに隣接する第2領域Yとを有してなり、
JIS B0601:1994に準じて測定される前記第1領域Xのカットオフ値0.8mmでの算術平均粗さRa1と、JIS B0601:1994に準じて測定される前記第2領域Yのカットオフ値0.8mmでの算術平均粗さRa2とが、Ra1>Ra2の関係を満たし、
JIS B0601:1994に準じて測定される前記第1領域のカットオフ値0.8mmでの十点平均粗さRz1と、前記Ra1とが、2.0≦Rz1/Ra1≦15.0の関係を満たす、転写シート。
IPC (3件):
B32B 27/00
, B29C 45/14
, B44C 1/17
FI (5件):
B32B27/00 B
, B32B27/00 L
, B29C45/14
, B44C1/17 G
, B44C1/17 L
Fターム (33件):
3B005EA06
, 3B005EB01
, 3B005EB05
, 3B005EC00
, 3B005FB11
, 3B005FE21
, 4F100AK25
, 4F100AK42
, 4F100AK51
, 4F100AR00B
, 4F100AT00A
, 4F100BA02
, 4F100BA07
, 4F100EC04B
, 4F100EH46
, 4F100EJ08
, 4F100EJ53
, 4F100EJ54
, 4F100EJ65
, 4F100GB33
, 4F100GB48
, 4F100GB84
, 4F100JB14
, 4F100JK15
, 4F100JK15A
, 4F100JL14A
, 4F100YY00A
, 4F206AD09
, 4F206AD10
, 4F206AF01
, 4F206AR13
, 4F206JA07
, 4F206JB19
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